仪器、仪表类:

超宽带低噪声前置放大仪 

产品介绍：NC2992型半导体器件可靠性分析仪可按国标(GB/T 4587-94)测量硅功率双极型晶体管(NPN 和 PNP 型)瞬态热阻和稳态热阻，还可按国标(GB/T 4023-1997)测量普通二极管热阻,按中国光协光电器件专业分会行标(GD/T1-2003)测量发光管热阻。对成品器件进行快速筛选，可按器件结温不均匀性进行排序.测试结果可显示、打印、存盘，使用方便、快捷，被测器件无须开盖，属于无损测试。

性能指标:
◆ 被测管加热功率电压：内部提供5～36V连续可调（可外接0～100V），
   测量误差≤±1%；
◆ 被测管加热功率电流分两档连续可调：10mA～200mA，测量误差≤±2%、
   200mA～5A，测量误差≤±2%；
◆ 被测管加热功率时间：300μS～30分钟可调；
◆ 被测管去功率后，热敏参数Vbe第一检测时间＜40μS；
◆ 热敏参数ΔVbe 测量范围：100～1250mV，误差＜±（0.3% +0.3mV)；
◆ 热阻测量误差≤±5%；
◆ 功耗：不大于500W；
◆ 外形尺寸：537×310×445mm3（W×H×L）；